Quais são os danos da ESD para dispositivos eletrônicos
Danos por ESD em dispositivos eletrônicos Danos por ESD em dispositivos eletrônicos, não importa se o ESD descarrega dispositivos eletrônicos diretamente ou indiretamente, dispositivos eletrônicos podem ser danificados. Pode não apenas causar falha súbita do funcionamento do dispositivo, mas também causar falha potencial do funcionamento do dispositivo.
1. Falha repentina
Falha repentina significa que quando um dispositivo eletrônico é exposto a um ambiente ESD, os parâmetros do circuito podem mudar significativamente e sua função pode ser perdida. ESD pode fazer com que o metal derreta e causar um curto-circuito ou quebra da camada de isolamento, etc., causando danos permanentes ao circuito do dispositivo. Essas falhas podem ser detectadas no teste do produto acabado antes do envio. De acordo com estatísticas relevantes, entre os dispositivos eletrônicos danificados por eletricidade estática, as falhas repentinas representam cerca de 10% do total de falhas.
Um forte campo eletrostático fará com que a camada de óxido de porta do dispositivo de efeito de campo MOS seja quebrada e o dispositivo falhe. Geralmente, a espessura do filme de óxido de porta dos dispositivos MOS é da ordem de 1 (T7 m). Quando o projeto do circuito não toma medidas de proteção, mesmo uma camada de óxido de alta qualidade densa e livre de orifícios será quebrada sob uma tensão eletrostática de 100 V. Para circuitos com medidas de proteção, embora a tensão de interrupção possa ser superior a 100 V, a voltagem de fontes de energia estática perigosas pode ser de vários milhares de volts ou mesmo dezenas de milhares de volts. Portanto, o efeito de ruptura dos campos eletrostáticos de alta tensão ainda é um grande perigo para os circuitos MOS. Além disso, o campo eletrostático de alta tensão também pode causar ruptura dielétrica entre circuitos de fiação multicamadas ou ruptura dielétrica entre fios metalizados, causando falha de circuito.
2. Potencial de falha
Falha potencial significa que quando o dispositivo é exposto ao ambiente ESD, pode causar degradação parcial do desempenho do dispositivo' s, mas temporariamente não afeta seu funcionamento adequado. No entanto, a vida útil do dispositivo é muito reduzida. Este dano é cumulativo. Conforme o número de pulsos ESD experimentados aumenta, o limite de tensão de dano eletrostático do dispositivo é gradualmente reduzido ou os parâmetros do dispositivo se deterioram lentamente. De acordo com as estatísticas, as falhas potenciais são responsáveis por 90% do número total de falhas ESD em dispositivos eletrônicos. Portanto, a falha potencial de dispositivos eletrônicos é mais prejudicial.